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QD 中國公司北京實驗室捷報頻傳—助力中國科研,合作共贏

更新時間:2020-06-22點擊次數(shù):1321

    近年來,中國科研迅速崛起,高質(zhì)量的科研成果層出不窮,捷報頻頻。為更有效地支持國內(nèi)科研及應(yīng)用發(fā)展,Quantum Design中國經(jīng)過數(shù)十年打造了QD中國北京樣機實驗室,旨在為中國科學家提供包括LVEM5 小型臺式透射電子顯微鏡、 Microwriter小型多功能激光直寫光刻系統(tǒng)、mIRage非接觸亞微米分辨紅外拉曼同步測量系統(tǒng)、neaSNOM 高分辨散射式近場光學顯微鏡等樣機。近日, QD中國北京實驗室的neaSNOM和nano-FTIR的樣機也迎來了兩篇與客戶合作的新論文正式上線。

    2020年6月,《Nature Communications》雜志發(fā)表了澳大亞蒙納士大學(Monash University)鮑橋梁教授及合作者題為“Chemical switching of low-loss phonon polaritons in α-MoO3 by hydrogen intercalation”的研究論文。文章致謝部分,作者對Quantum Design China北京實驗室提供的nea-SNOM測試支持意表示了感謝。論文作者之歐清東博士對neaSNOM樣機的使用給予了高度的肯定和評價。

文章共同作者歐清東博士對neaSNOM樣機的評價:
“Quantum Design中國子公司北京實驗室的neaSNOM設(shè)備,為該研究的部分數(shù)據(jù)采集提供了有力的技術(shù)支持。得益于散射型近場光學顯微鏡,我們可以直接觀測到納米尺度聲子化激元在二維材料體系內(nèi)的傳播,并且可以定量地分析激元性。在該研究中,neaSNOM的高空間分辨率和寬譜可調(diào)的紅外光源,使我們清晰地觀測到a-MoO3聲子激元在化學調(diào)控下的系列近場行為表現(xiàn)與納米光學性。”

圖:文章共同作歐清東博士(右)在QD中國北京樣機實驗室

    同時,2020年1月,美國化學會《ACS Applied Materials & Interfaces》雜志也上線了清華大學雒建斌院士和解國新副教授研究組題為“Super-Slippery Degraded Black Phosphorus/Silicon Dioxide Interface”的研究論文。文章致謝部分,作者對Quantum Design China北京實驗室李勇君博士對于nano-FTIR測試提供的幫助表示了感謝。同時作者對nano-FTIR樣機的使用前景給予了良好的評價。

文章作武帥博士對nano-FTIR的評價:
“nano-FTIR技術(shù)克服了普通FTIR光譜限分辨率低的限制,實現(xiàn)了在納米分辨率下鑒別界面的化學成分,揭示了降解后BP的表面基團與水分子之間的強相互作用。界面存在的液態(tài)水層是BP/SiO2界面超低剪切強度的主要原因,這發(fā)現(xiàn)也有助于揭示BP納米材料在水基潤滑中的作用機制,結(jié)合了AFM的成像和精確定位功能,Nano-FTIR技術(shù)實現(xiàn)了納米尺度的原位紅外測試,是納米材料原位測試研究中強有力的進表征技術(shù)。”

 圖二:文章作者武帥博士(右)在QD中國北京樣機實驗室

    Quantum Design中國對客戶的信任與認可表示誠摯的感謝,能夠為中國的科研貢獻份力量,是我們的榮幸,我們也將繼續(xù)秉承 “For Scientist, By Scientist”的理念,助力中國科技蓬勃發(fā)展,與中國科研工作者“合作共贏”。 QD中國北京樣機實驗室與客戶的合作文章將紛至沓來,敬請期待!

文章內(nèi)容簡介:1.  Chemical switching of low-loss phonon polaritons in α-MoO3 by hydrogen intercalation

    近幾年,天然范德瓦爾斯材料體系中的聲子化激元,展現(xiàn)出異的納米光學性,引起了科研工作者的廣泛關(guān)注與研究。相較于諸如石墨烯的等離激元,聲子激元材料通常具有很大的帶隙,電學柵壓調(diào)控對聲子激元并不適用。因此,如何有效的操控這些新穎的聲子激元是目前面臨的大挑戰(zhàn)。

    該研究報道了種化學法調(diào)控聲子激元的策略[1],通過直接修飾激元材料(a-MoO3)本身,實現(xiàn)聲子激元的開關(guān)與轉(zhuǎn)換。實驗所采用的氫原子插層技術(shù)具有非易失并可恢復(fù)的點,讓我們能夠在實現(xiàn)可逆開關(guān)聲子激元的同時,維持其較長的激元壽命。通過精確控制離子插層參數(shù),作者用高空間分辨率的neaSNOM對不同插層階段的樣品進行測試。所得到的近場圖像顯示出具有定空間取向的中間態(tài)氫化納米結(jié)構(gòu)充當了面內(nèi)納米天線,可以有效地激發(fā)與反射聲子激元。為了進步驗證化學開關(guān)聲子激元的實用性,研究者借助納米光刻技術(shù)在a-MoO3薄層表面設(shè)計并制備出多種不同的局域化圖案,并在氫化與脫氫作用后,有效實現(xiàn)了具有空間選擇性的聲子激元可逆控制。這發(fā)現(xiàn)為今后制備具有不同構(gòu)型的面內(nèi)異質(zhì)結(jié)和批量實現(xiàn)聲子激元共振增強的陣列提供了種可行性方案??傊撗芯克岢龅牟鍖硬呗酝卣钩鰲l連接納米光子學,可重構(gòu)的超表面以及范德瓦爾斯光學材料的有效途徑。

 

 

 文章內(nèi)容簡介 2.  Super-Slippery Degraded Black Phosphorus/Silicon Dioxide Interface

    在微電子器件的制備中,二維材料常被轉(zhuǎn)移到二氧化硅(SiO2)/硅(Si)基底上進行組裝和加工。黑磷(BP)具有良好的電學與光電性,是種新型的具有二維層狀結(jié)構(gòu)的直接帶隙半導體材料,但在大氣環(huán)境中容易與氧和水結(jié)合發(fā)生降解。清華大學的研究者在用AFM探針對BP納米片進行納米操縱的過程中發(fā)現(xiàn),降解的BP薄片可在SiO2/Si基底上發(fā)生滑動,測得其界面剪切強度(ISS)低至0.029±0.004 MPa,與石墨的層間剪切強度值相當。值得注意的是,在BP片發(fā)生滑動后,基底上有明顯的殘余物,可見 BP/SiO2的界面并非單純的固-固接觸界面[2]。

    為了研究界面結(jié)構(gòu)的化學組成,研究者采用基于原子力顯微鏡(AFM)的納米傅里葉紅外光譜技術(shù)(nano-FTIR),通過具有Pt-Ir涂層的AFM針尖在納米尺度進行近場探測BP表面和界面殘余物化學基團的分子振動信息,在900—1100 cm-1的激光波長范圍內(nèi)獲得了nano-FTIR光譜分析,同時記錄了與樣品紅外吸收相關(guān)的nano-FTIR吸收光譜。測試數(shù)據(jù)表明:退化的BP表面和界面殘余物均出現(xiàn)1050cm-1的P-OH征峰,P-OH的不對稱拉伸振動峰(924 cm-1)和彎曲振動峰(940 cm-1),以及和H2O發(fā)生耦合的峰(1080 cm-1);另外,位于930-1000 cm-1的復(fù)合峰可歸為P-O鍵的振動模式,包括P-O-P,P-O,PO43-和P=O基團,1008 cm-1處的峰值對應(yīng)于H3PO4典型的對稱拉伸振動,而1045 cm-1和1062-1066 cm-1處的吸收峰來源于PO43-基團;同時,在基底表面還存在Si-OH鍵的振動峰(位于939 cm-1和970 cm-1)。該結(jié)果表明,轉(zhuǎn)移在SiO2表面的BP在降解的過程不僅形成了表面吸附水層,界面包含大量的P-OH、P=O等親水基團和H2O分子,同時誘導SiO2表面Si-OH基團的形成。界面P-OH和Si-OH等親水基團促進可移動水層的插入,影響界面水分子的擴散和結(jié)構(gòu)。

論文原文參考:

[1] Yingjie Wu, Qingdong Ou, Yuefeng Yin, Yun Li, Weiliang Ma, Wenzhi Yu, Guanyu Liu,Xiaoqiang Cui, Xiaozhi Bao, Jiahua Duan, Gonzalo Álvarez-Pérez, Zhigao Dai, Babar Shabbir,Nikhil Medhekar, Xiangping Li, Chang-Ming Li , Pablo Alonso-González & Qiaoliang Bao,Chemical switching of low-loss phonon polaritons in α-MoO3 by hydrogen intercalation,Nature Communications,2020, 11,2646

https://doi.org/10.1038/s41467-020-16459-3.

[2] Shuai Wu, Feng He, Guoxin Xie, Zhengliang Bian, Yilong Ren, Xinyuan Liu, Haijun Yang, Dan Guo,Lin Zhang, Shizhu Wen, and Jianbin Luo, Super-Slippery Degraded Black Phosphorus/Silicon Dioxide Interface,ACS Appl. Mater. Interfaces, 2020, 12, 7717−7726 https://doi.org/10.1021/acsami.9b19570.

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