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美國(guó)easyXAFS公司推出的X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設(shè)計(jì)，無(wú)需同步輻射光源，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量和分析，提供XAFS和XES兩種測(cè)量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質(zhì)量，廣泛應(yīng)用在催化、電池等研究域，實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的測(cè)定、定量和價(jià)態(tài)分析等。

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)-ZEM-d主要測(cè)量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測(cè)量的樣品薄為10μm。

日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)-TCN-2ω是使用2ω方法測(cè)量納米薄膜厚度方向熱導(dǎo)率的商用系統(tǒng)。與其他方法相比，樣品制備和測(cè)量為簡(jiǎn)單。

石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測(cè)量系統(tǒng)-ONYX是款針對(duì)石墨烯、半導(dǎo)體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無(wú)損表征的測(cè)量設(shè)備。

激光閃光法熱常數(shù)測(cè)量系統(tǒng)-TC-1200RH系統(tǒng)采用符合JIS/ISO標(biāo)準(zhǔn)的激光閃光法測(cè)定材料的三個(gè)重要熱物理常數(shù)：熱導(dǎo)率（導(dǎo)熱系數(shù)）、熱擴(kuò)散系數(shù)及比熱容。

低溫雙軸旋轉(zhuǎn)模塊-atto3DR通過(guò)水平固定軸的旋轉(zhuǎn)，控制樣品表面與外界磁場(chǎng)的傾角（+/- 90°）；而沿面內(nèi)固定軸的旋轉(zhuǎn)提供了另外+/- 90°的運(yùn)動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)樣品與磁場(chǎng)形成任意相對(duì)方向。